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缺陷密度的解释
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下一篇 2008-12-16 16:07:27
/ 个人分类:测试管理
i"q7{$Wh3u2r|j0缺陷密度: 基本的缺陷测量是以每千行代码的缺陷数(Defects/KLOC)来测量的。称为缺陷密度(Dd),其测量单位是defects/KLOC。缺陷密度=缺陷数量/代码行或功能点的数量