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缺陷密度的解释
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下一篇 2008-12-16 16:07:27
/ 个人分类:测试管理
51Testing软件测试网?W/nX5~缺陷密度: 基本的缺陷测量是以每千行代码的缺陷数(Defects/KLOC)来测量的。称为缺陷密度(Dd),其测量单位是defects/KLOC。缺陷密度=缺陷数量/代码行或功能点的数量
xsc/QF7QF0
Zkg9gX.pb0 可按照以下步骤来计算一个程序的缺陷密度: 1.累计开发过程中每个阶段发现的缺陷总数(D)。 2.统计程序中新开发的和修改的代码行数(N)。 3.计算每千行的缺陷数Dd=1000*D/N。 例如,一个29.6万行的源程序总共有145个缺陷,则缺陷密度是: Dd=1000*145/296000=0.49 defects/KLOC。 51Testing软件测试网|&hZ$a U _
5nz/am.mT0 在缺陷密度度量中存在的两个主要困难是:
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l1Z/}j*kI01.缺陷权值如何计算:是否将严重程度较轻的缺陷和较重的缺陷同等对待?我们需要对他进行加权吗?
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