1、Delay-S型可靠性增长模型
Delay-S型可靠性增长模型也叫做延迟S型可靠性增长模型。
对于软件缺陷移除过程，测试过程应当不仅包括缺陷检测过程，还包括一个缺陷隔离过程。由于故障分析需要一定的时间，这个时间应当不是可以忽略不计的，在观察到的第一个故障时间和报告时间之间有很大的延迟。随时间观测到的延迟缺陷累计数符合S曲线分布，这种情况称为延迟S型曲线模型。
● Delay-S型可靠性增长模型的函数形式
◆ Delay-S的累积缺陷分布函数（CDF）：F（t）=K*（1-（1+λ*t）exp（-λ*t））；
◆ Delay-S的缺陷概率密度函数（PDF）：f（t）=K*（λ^2）*t*exp（-λ*t）；
◆ 其中，t是时间，K是总缺陷数或者累积缺陷率。
● Delay-S型可靠性增长模型对应的函数图
图3 Delay-S型曲线的CDF图
图4 Delay-S型曲线的PDF图
2、Inflection-S型可靠性增长模型
Inflection-S型可靠性增长模型也叫做变形S型可靠性增长模型。
变形S型可靠性增长模型用检测到的缺陷之间的相互依赖性描述了软件故障检测现象。具体来说，检测到的故障越多，就有更多没有检测到的缺陷变得可以检测。这个模型讨论了缺陷之间的相互关系，可能与实际情况更接近。
● Inflection-S型可靠性增长模型的函数形式
◆ Inflection-S的累积缺陷分布函数（CDF）：F(t)=K*(1-exp(-λ*t))/(1+Φ*exp(-λ*t))；
◆ Inflection-S的缺陷概率密度函数（PDF）：f(t)=K*λ*exp(-λ*t)*(1+Φ)/(1+Φ*exp(-λ*t))^2；
◆ 其中，t是时间，K是总缺陷数或者累积缺陷率。
● Inflection-S型可靠性增长模型的曲线形式与普通S型曲线增长模型相似。
接下来会详细介绍S型曲线的拟合方法
未完待续。。。
相关链接：
