缺陷生命周期

　　（K3）根据IEEE Std 1044－1993定义的异常管理生命周期进行缺陷管理。

　　（K3）根据IEEE Std 1044－1993评估缺陷报告和缺陷分类以改进缺陷报告的质量。

　　和软件开发生命周期一样，缺陷也是由一系列的阶段和活动组成的，即缺陷同样具有生命周期。如图1所示，根据IEEE Std 1044－1993 中的描述，缺陷生命周期主要由四个阶段组成：识别（Recognition）、调查（Investigation）、改正（Action）、总结（Disposition）。

图1  缺陷分类过程

　　对于缺陷生命周期的每个阶段，都包括记录（Recording）、分类（Classifying）和确定影响（Identifying Impact）三个活动。缺陷生命周期的四个阶段看起来是按照顺序进行的，但是缺陷可能会在这几个阶段中进行多次迭代。下面对缺陷生命周期的每个阶段和阶段中的活动进行详细的讨论。

　　1、识别

　　缺陷的识别是整个缺陷生命周期的第一个阶段，它可以发生在软件开发生命周期的任何一个阶段。缺陷的识别可以由参与项目的任何利益相关者完成，例如：系统人员、开发人员、测试人员、支持人员、用户等。缺陷识别阶段的主要活动包括：

　　记录：在缺陷识别阶段，需要记录缺陷的相关信息，包括发现缺陷时的支持数据信息和环境配置信息，例如：被测系统的硬件信息、软件信息、数据库信息和平台信息等。

　　分类：在缺陷识别阶段，需要对缺陷相关的一些重要属性进行分类，主要包括发现缺陷时执行的项目活动（如表1所示）、引起缺陷的原因、缺陷是否可以重现、缺陷发现时的系统状态、缺陷发生时的征兆等。

　　确定影响：根据缺陷发现者的经验和预期，判断缺陷可能会造成的影响，例如：缺陷的严重程度（如表2所示）、优先级，以及缺陷对成本、进度、风险、可靠性、质量等的影响。

表1  发现缺陷时的项目活动分类