注意UT和IT的关注重点不同：
UT：注重被测单元本身单元接口，出错处理，局部数据结构，边界条件，独立路径。（即被测单元自身是否错误，先不考虑别的单元） IT：注重被测单元间的接口和集成后的功能。（即集成，组合后的功能） 因此在使用测试策略时也有区别。
例1：
如果要测试3个函数单元A，B和C，函数A是顶层函数，第二层是函数B和C。 采用自顶向下策略进行UT：（三个步骤分别测了函数A，B，C）
1.为函数A写DRIVER，测试函数A，为函数B和C分别写STUB.
2.用函数A的DRIVER，测试函数B，函数C的STUB仍然保留。
3.函数A的DRIVER，测试函数C.
采用自顶向下策略进行IT：（第一步对函数A和B做集成测试，第二步对函数A，B和C做集成测试）
1.为函数A写DRIVER，对函数A和B做集成测试，为函数C写STUB.
2.用函数A的DRIVER，加入函数C，对函数A，B和C做集成测试.
例2：
如果要测试5个函数单元A，B，C，D和E，函数A是顶层函数，第二层是函数B，C和D，第三层是函数E在函数B下. 采用自底向上策略进行UT：（五个步骤分别测了函数EBCDA）
1.为函数E写DRIVER，测试函数E
2.为函数B写DRIVER，测试函数B，使用下一层已被测试的函数E做桩模块（不需写STUB，直接调用函数E既可，但仍然把其理解为桩）。
3.为函数C写DRIVER，测试函数C。
4.为函数D写DRIVER，测试函数D。
5.为函数A写DRIVER，测试函数A，使用下一层已被测试的函数B，C和D做桩模块。
采用自底向上策略进行IT：
1.为函数B写DRIVER，对函数B和E做集成测试。
2.为函数A写DRIVER，对函数A，B，C，D和E进行集成测试（并行进行）
