7.6.3 缺陷密度的定义
对于一个软件工作产品,软件缺陷可以分为通过评审或测试等方法发现的已知缺陷(known defect)和尚未发现的潜在缺陷(1atency defect)两种。
Myers有一个关于软件测试的著名反直觉原则:在测试中发现缺陷多的地方,还有更多的潜在缺陷将会被发现。这个原则背后的原因是,发现缺陷越多的地方,漏掉的缺陷可能性也会越大,或者说测试效率没有被显著改善之前,在纠正缺陷时将引入较多的错误。其数学表达就是缺陷密度的度量——每KLOC或每个功能点(或类似的度量——对象点、数据点、特征点等)的缺陷数,缺陷密度越低意味着产品质量越高。
缺陷密度的定义如下:
缺陷密度=已知缺陷数量/产品规模
缺陷密度与缺陷率、整体缺陷清除率、缺陷趋势、预期缺陷发现率等都有一定的关系,相关内容可以参考7.7节“缺陷分析”。
使用缺陷密度时,有一点需要注意:百分比度量表示相对频率,需要给出足够的上下关系信息。通常的描述在使用百分比和比率时不够小心,例如:“需求缺陷占总数的15%,设计缺陷占总数的25%,编码缺陷占总数的50%,其他的缺陷占总数的10%”。还不能提供更加详细有力的信息,如果按照如下所述,将可以得到更多的信息,即“一个包含了8 000行代码的工程,在其开发期间,检测并排除了约200个缺陷,因此缺陷排除率为每千行代码25个缺陷。在这200个缺陷中,需求缺陷占总数的15%,设计缺陷占总数的25%,编码缺陷占总数的50%,其他的缺陷占总数的10%”。
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