缺陷潜伏期

缺陷潜伏期是测试有效性度量的一个重要指标，通常也称为阶段潜伏期。缺陷潜伏期是一种特殊类型的缺陷分布度量。在实际测试工作中，发现缺陷的时间越晚，这个缺陷所带来的损害就越大，修复这个缺陷所耗费的成本就越高。所以，在一项有效的测试工作中，发现缺陷的时间往往比一项低效的测试工作要早。

按照缺陷产生的阶段和缺陷发现阶段，统计软件开发项目的缺陷分布情况，再根据软件开发生命周期的各个阶段缺陷潜伏期度量的加权值，可以对缺陷发现过程的有效性和修复缺陷所耗费的成本进行评测。

这里采用了一个缺陷损耗的概念，缺陷损耗是使用阶段性潜伏期和缺陷分布，来度量缺陷消除活动有效性的一种度量指标。缺陷消耗可使用以下公式计算：

一般而言，缺陷损耗的数值越低，就说明缺陷的发现过程越有效，而最理想的数值应该为1。作为一个绝对值，缺陷损耗几乎没有任何意义，但是当用缺陷损耗来度量测试有效性的长期趋势时，它就会凸显出自己的重要价值！