心念旧安,夙夜忧叹。
常见缺陷分析技术
上一篇 /
下一篇 2012-11-27 21:16:36
/ 个人分类:转贴好文
1、ODC缺陷分析:由
IBM 的waston中心推出。将一个缺陷在生命周期的各环节的属性组织起来,从单维度、多维度来对缺陷进行分析,从不同角度得到各类缺陷的缺陷密度和缺陷比率,从而积累得到各类缺陷的基线值,用于评估
测试活动、指导测试改进和整个研发流程的改进;同时根据各阶段缺陷分布得到缺陷去除过程特征模型,用于对测试活动进行评估和预测。上面回答中涉及到的缺陷分布、缺陷趋势等都属于这个方法中的一个角度而已。