缺陷管理之缺陷收敛趋势分析续

前面那篇《缺 陷管理之缺陷收敛趋势分析》发布之后，很快就被一些垃圾网站剽窃了。剽窃很彻底，文章出处和作者都没有。

上篇文章对收敛趋势的一些基本概念做了讲解，本文就不再罗嗦了，没看过的同学请先看上一篇文章《缺 陷管理之缺陷收敛趋势分析，如果不看，我不保证你能看懂。本文将缺陷收敛趋势分析另外一种计算和表现方法，比上一种简单。

看图说话：

当前发现：在一个测试周期内发现的缺陷数目，也可以说是新增缺陷数目。

累计发现：截止到一个测试周期结束，所有发现的缺陷数目。

当前解决：在一个测试周期内，经过测试人员验证并关闭的缺陷数目。

累计解决：戒子到一个测试周期技术，多有关闭的缺陷数目。

如果用N1,N2...Nn表示每个测试周期发现的缺陷数目，那么N1表示第一个“当前发现”的数目，Nn表示第n个“当前发现”数目。于是：

累计发现n = N1 + N2 + ... + Nn

如果用C1,C2...Cn表示每个测试周期关闭的缺陷数目，那么C1表示第一个“当前解决”的数目，Cn表示第n个“当前解决”数目。于是：

累计解决n = C1 + C2 + ... + CN

统计都比较简单，累计发现和累计解决两天曲线表现出来是一致上扬。如果累计解决曲线越接近累计曲线，说明缺陷收敛情况比较好。理论上，当所有缺陷都关闭的时候，累计发现和累计解决就重合，但在实际情况中较少。