2007-09-26 10:12:19
/ 译文征稿活动
原文作者:M. Butcher, H. Munro, and T. Kratschmer原文出处:http://researchweb.watson.ibm.com/journal/sj/411/butcher.html推荐理由:对缺陷分析工作有启发版主注:本文已收录于51testing软件测试杂志第七期,查看译文请点击:http://www.51testing.com/html/22/n-66022.html
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