摘要：针对嵌入式软件的特点，通过对现有一些软件缺陷分类方法进行研究分析，本文提出了一种基于故障模型的缺陷分类方法，这种方法在软件测试中能有效的发现一些极易疏忽的软件故障。

　　关键词：嵌入式测试；软件缺陷；故障模型；缺陷分类

　　一、引言

　　在嵌入式领域目标系统的应用系统日益复杂，开发技术日新月异，同时硬件发展的日益稳定，而软件缺陷问题却日益突出，软件的重要性逐渐引起人们的重视，越来越多的人认识到嵌入式系统的测试势在必行。但由于嵌入式系统具有实时性、内存不丰富、I/O通道少，CPU种类繁多等特点，相对非嵌入式软件开发和策略有很大不同，测试更复杂。

　　针对嵌入式软件难测的特点，使用有效的测试策略是唯一的出路，而面向故障的软件测试方法是比较有效的方法之一。面向故障的测试包括故障模型和基于该模型的软件测试方法。软件的故障模型一直是软件测试的瓶颈，而如何对软件故障进行分类，是软件故障模型研究的关键点之一。

　　二、软件缺陷分析

　　1、软件缺陷

　　软件缺陷不只是程序中存在的错误或疏忽，还包括在软件相关产品中存在的错误。在软件工程整个生命周期中，任何背离需求，无法正确完成用户所要求的功能问题，都属于缺陷范畴。

　　2、软件缺陷的分类

　　软件缺陷的分类方法很多，各种分类方法的目的不同，观察问题的角度和复杂程度也不一样。程序是软件的具体表现，所以为了便于测试，其定义的故障模型必须落实到程序上，也就是说，故障是程序中某个或某几个程序元素的错误。定义在程序中的故障必须满足下列几个条件：

　　1）故障必须是和实际是对应的。

　　2）故障必须能引起错误。

　　3）故障的个数是可以容忍的。

　　根据以上对缺陷的分析和研究以及项目研究的特点，我们尝试对缺陷进行一种新的分类，即按照故障模型来对缺陷进行分类。

　　三、缺陷分类模型

　　根据嵌入式软件应用的特点，可以分为以下几类型，分别是存储型、计算型、分支型、循环型、功能型、死锁型。

　　1、存储型

　　包括坏的存储和存储泄露错误；坏的存储指没有指向存储块的指针被释放，或用Delete释放被new[]定义的简单数组等。存储泄漏指动态分配的指针变量没有释放，造成存储泄漏。