1、意义
CONT测试是检验芯片引脚与测试座（SOCKET）之间接触是否良好的重要依据，是进行后续测试的关键。
2、 内容
开尔文连接是芯片测试的重要方法，该方法从芯片引脚引出两条走线，这两条走线称为FORCE端和SENSE端，其中FORCE端用于输入或输出，SENSE端用于测量该引脚的电流或电压值（原理同万用表）。在接触良好的前提下，芯片每个引脚都压在对应的FRCE和SENSE端，如图所示。
上图是一个简单的芯片，一共有三个引脚，其封装形式为SOT23-3，当其装在SOCKET上时，每个脚会与两根铜丝接触，如图所示。
当某个脚与其对应的两根铜丝接触不好时，这两根铜线之间的阻值就会变大，因此可以用阻值来反应芯片是否放置好。
3、编程
常见的测试机，例如国产的ACCOTEST 8200F、CTA8280F以及ETS88等，测试机编程语言大同小异，这里以8200为例。CONT的值一般在20欧姆以下，如果阻值太大，接下来的测试结果就会不太准确。
cbit.SetOn(K2, K3, K22, K29, -1); //所需的继电器
delay_ms(3);//延迟3ms
fovi0.Set(FI, 1e-3f, FOVI_1V, FOVI_10MA, RELAY_ON);//给FORCE端电流
fovi1.Set(FI, 1e-3f, FOVI_1V, FOVI_10MA, RELAY_ON);//给电流
delay_ms(1);
fovi0.MeasureVI(30, 10);//测sense端电流电压
fovi1.MeasureVI(30, 10);
for (i = 0; i<SITENUM; i++)
{
CONT_VCC->SetTestResult(i, 0, fovi0.GetMeasResult(i, MVRET) / (fovi0.GetMeasResult(i, MIRET) + 1e-12f));
CONT_RESET->SetTestResult(i, 0, fovi1.GetMeasResult(i, MVRET) / (fovi1.GetMeasResult(i, MIRET) + 1e-12f));
}
在测试CONT的时候，可以给电压也可以给电流，一般情况下给电流更加稳定，给FORCE端1mA的电流，测SENSE端的电压，这样就能得到一个反应接触的阻值。
注：当芯片管脚较多时，一个一个测很麻烦，可以将所有引脚串起来测试，即将前一个脚的sense端和后一个脚的force端相连，然后第一个脚的force端给电流，最后一个脚的sense端测电压求总的阻值。
本文内容不用于商业目的，如涉及知识产权问题，请权利人联系51Testing小编(021-64471599-8017)，我们将立即处理
