明年iPhone 15有望全系采用“感叹号”开孔设计

发表于:2022-3-03 09:04

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 作者:cnBeta    来源:今日头条

  当刘海设计的 iPhone X 发布之初,很多人都调侃和吐槽这样的外观设计。当时虽然很多人都认为刘海设计并不好看,而且对于 Face ID 替代 Touch ID 表示惋惜,但是在几年后刘海成为了 iPhone 区别于其他 Android 打孔设计的重要标志。
  不过近期有传闻称,2023 年推出的 iPhone15 有望完全消除刘海设计。据屏幕供应链咨询公司 DSCC 分析师 Ross Young 透露,所有的 iPhone 15 将采用“感叹号”设计,就是同时具备打孔和药丸组合,其中打孔部分主要容纳 iPhone 的前置摄像头,而药丸部分开孔主要容纳 Face ID 等传感器。这样的组合看起来像是横放的“感叹号”。
  虽然这些切口的确切尺寸还有待观察,但下面是该设计可能出现的效果图。顺便说一下,实际的切口可能比上面的渲染图略宽。不过,按理说,在未来的几年里,苹果会尽量使这些传感器不显眼。
  令人振奋的消息是,我们实际上不必等到 iPhone 15 才看到这种略有改变的外形。相反,有传言说,苹果即将推出的 iPhone 14 Pro 机型将在今年晚些时候拥有这种新设计。有传言说,苹果最好将其 Face ID 传感器嵌入到显示屏本身的下方,但没有迹象表明这很快就会发生。在这期间,上面的渲染图可能说明了 iPhone 设计的下一步演变。

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