自顶向下集成测试方法和自底向上集成测试方法各有优缺点，一般来讲，一种方法的优点是另一种方法的缺点，因此产生了混合渐增式集成测试方法。下面介绍三种常见的混合渐增式集成测试方法。

　　1） 衍变的自顶向下的渐增式测试，它的基本思想是强化对输入/输出模块和引入新算法模块进行测试，再自底向上组装成为功能相当完整且相对独立的子系统，然后由主模块开始自顶向下进行渐增式测试。

　　2） 自底向上—— 自顶向下的渐增式测试，首先对含读操作的子系统自底向上直至根结点模块进行组装和测试，然后对含写操作的子系统进行自顶向下的组装与测试。

　　3） 回归测试，这种方式采取自顶向下的方式测试被修改的模块及其子模块，然后将这一部分视为子系统，再自底向上测试，以检查该子系统与其上级模块的接口是否匹配。

　　在组装测试时，测试者应当确定关键模块，对这些关键模块及早进行测试。关键模块至少应具有以下几种特征：

　　*    满足某些软件需求。

　　*    在程序的模块结构中位于较高的层次（高层控制模块）。

　　*    较复杂、较容易发生错误。

　　*    有明确定义的性能要求。

　　现在已经分别介绍了非渐增式测试方法和渐增式测试方法，从中可以看出渐增式测试方法相比非渐增式测试方具有以下优点：

　　1） 非渐增式测试需要更多的工作量，对于图8-17所示的程序模块结构，使用非渐增式测试方法可能需要5个驱动模块和6个桩模块。但对从底向上的渐增式测试方法仅需要5个驱动模块，不需要构造桩模块，减少了辅助性测试工作。

　　2） 非渐增式测试方法先分散测试，再集中起来一次完成组合和测试，如果在模块接口处存在差错，只会在最后的组合时一下子暴露出来。而使用渐增式测试方法可以较早地发现模块接口错误，这是由于较早地把模块组合起来进行测试所致。

　　3） 作为一个结果，使用渐增式测试将使调试工作变得容易，因为渐增式测试逐步组合和逐步测试模块，把可能出现的错误逐步分散暴露出来，并且由于每次组合一个模块，错误发生时，可以比较容易地定位；这些错误是在最新增加的模块的连接中出现的。反之，使用非渐增式测试方法，直到对各个模块测试结束，对整个程序进行组合时才能发现错误，这时再确定错误的位置就非常困难，因为它可能出现在程序的任何地方。

　　4） 渐增式测试方法利用以前已测试过的模块取代非渐增式测试方法中所需要的驱动（或桩）模块，这样对后面模块的测试会使得前面已经实际测试过的模块得到更多的检验，因而使得整个程序的测试能取得较好的效果。

　　那么非渐增式测试方法为什么还要存在呢？一个原因是因为在实际工作中有人是这样进行程序的组装测试的，需要在这里指出其弊端；另一个原因是非渐增式测试方法在一些特定条件和特定范围内能起到一定作用，它把整个软件系统组装起来也很快，但是必须小心谨慎。下面是一系列非渐增式测试方法应用的条件，但这仅仅是必要条件。那就是在一个做得很好且高度模块化的设计中，模块间的相互作用很小，而且详尽说明了接口，且将接口错误保持在最低限度，这时可以考虑用非渐增式测试方法。