7.6.3 缺陷密度的定义
对于一个软件工作产品，软件缺陷可以分为通过评审或测试等方法发现的已知缺陷（known defect）和尚未发现的潜在缺陷（1atency defect）两种。
Myers有一个关于软件测试的著名反直觉原则：在测试中发现缺陷多的地方，还有更多的潜在缺陷将会被发现。这个原则背后的原因是，发现缺陷越多的地方，漏掉的缺陷可能性也会越大，或者说测试效率没有被显著改善之前，在纠正缺陷时将引入较多的错误。其数学表达就是缺陷密度的度量——每KLOC或每个功能点（或类似的度量——对象点、数据点、特征点等）的缺陷数，缺陷密度越低意味着产品质量越高。
缺陷密度的定义如下：
缺陷密度=已知缺陷数量/产品规模
缺陷密度与缺陷率、整体缺陷清除率、缺陷趋势、预期缺陷发现率等都有一定的关系，相关内容可以参考7.7节“缺陷分析”。
使用缺陷密度时，有一点需要注意：百分比度量表示相对频率，需要给出足够的上下关系信息。通常的描述在使用百分比和比率时不够小心，例如：“需求缺陷占总数的15%，设计缺陷占总数的25%，编码缺陷占总数的50%，其他的缺陷占总数的10%”。还不能提供更加详细有力的信息，如果按照如下所述，将可以得到更多的信息，即“一个包含了8 000行代码的工程，在其开发期间，检测并排除了约200个缺陷，因此缺陷排除率为每千行代码25个缺陷。在这200个缺陷中，需求缺陷占总数的15%，设计缺陷占总数的25%，编码缺陷占总数的50%，其他的缺陷占总数的10%”。
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